КаталогКниг.РФ Технология производства и контроль качества наноматериалов и наноструктур. Учебное пособие (Сигов Александр Сергеевич, Капустин Владимир Иванович) ; ИНФРА-М, 2019
от 1226 р. до 1838 р.
Автор(ы): Сигов Александр Сергеевич; Капустин Владимир Иванович;
Издатель: НИЦ ИНФРА-М
EAN: 978-5-16-015278-3
ISBN: 978-5-16-015278-3
ID: SKU3510
Добавлено: 15.08.2021
Сравнить цены
Цена от 1226 р. до 1838 р. в 3 магазинах
| Магазин | Цена | Наличие |
|---|---|---|
| Лабиринт 5/5 | 1838 р. 2626 р. | |
| Яндекс.Маркет 5/5 | 1300 р. 1529 р. | |
| МАЙШОП 5/5 | 1226 р. 1751 р. | |
| Читай-город 5/5 | ||
Описание
Учебное пособие содержит краткие сведения о технологиях производства наноматериалов и наноструктур, методах контроля кристаллической структуры и размеров нанокристаллитов, методах контроля электронной структуры и типа химических связей в наноматериалах, а также типа и концентрации точечных дефектов в наноматериалах.
Для студентов учреждений среднего профессионального образования, обучающихся по укрупненным группам специальностей 11.02.00 «Электроника, радиотехника и системы связи», 22.02.00 «Технологии материалов».
Для студентов учреждений среднего профессионального образования, обучающихся по укрупненным группам специальностей 11.02.00 «Электроника, радиотехника и системы связи», 22.02.00 «Технологии материалов».
Смотри также Характеристики.
Яндекс.Маркет
Содержание
Предисловие,
Глава 1. Основные технологии наноматериалов
Глава 2. Физические основы методов анализа
материалов
Глава 3. Контроль кристаллической структуры
наноматериалов
Глава 4. Контроль размеров наночастиц и
наноструктур
Глава 5. Контроль элементного состава
наноматериалов
Глава 6. Анализ типа химических связей в
наноматериалах
Глава 7. Анализ дефектов кристаллической
структуры наноматериалов
Библиографический список
Глава 1. Основные технологии наноматериалов
Глава 2. Физические основы методов анализа
материалов
Глава 3. Контроль кристаллической структуры
наноматериалов
Глава 4. Контроль размеров наночастиц и
наноструктур
Глава 5. Контроль элементного состава
наноматериалов
Глава 6. Анализ типа химических связей в
наноматериалах
Глава 7. Анализ дефектов кристаллической
структуры наноматериалов
Библиографический список
О книге
| Автор(ы) | Сигов Александр Сергеевич, Капустин Владимир Иванович |
| Серия | Среднее профессиональное образование |
| Раздел | Радиоэлектроника |
| Издатель | ИНФРА-М |
| ISBN | 978-5-16-015278-3 |
| Год издания | 2019 |
| Количество страниц | 244 |
| Формат | 146x217мм |
| Вес | 0.33кг |
| Переплет | Твердый переплёт |
| Возрастные ограничения | 12 |
| Кол-во страниц | 244 |
| Размеры | 60x90/16 |
| Обложка | твердый переплёт |
| Язык издания | rus |
1 ms.
Книги с похожим названием
Книги где авторы: Сигов Александр Сергеевич, Капустин Владимир Иванович
Радиоэлектроника. Связь - издательство "НИЦ ИНФРА-М"
Категория 980 р. - 1471 р.
Физические науки. Астрономия - издательство "НИЦ ИНФРА-М" »
0 ms.
Радиоэлектроника. Связь
Категория 980 р. - 1471 р.
