Метрологическое обеспечение наукоемких технологий (Анцыферов Сергей Сергеевич, Афанасьев М. С., Сигов Александр Сергеевич) ; Икар, 2016

ПРЕДИСЛОВИЕ
ВВЕДЕНИЕ
1. ОСНОВЫ МЕТРОЛОГИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ
НАУЧНО-ТЕХНИЧЕСКОЙ ПРОДУКЦИИ
1.1. Предварительные сведения
1.2. Научная основа метрологического обеспечения
1.2.1. Моделирование как основа построения
метрологического обеспечения
1.2.2. Установление типа шкалы измерения
1.2.3. Установление вида системы единиц
измерения физических величин
1.2.4. Воспроизведение и передача размеров
единиц и шкал измерения физических величин
1.3. Техническая основа метрологического
обеспечения
1.3.1. Система государственных эталонов
1.3.2. Система передачи размеров единиц ФВ
средствам измерения
1.3.3. Средства измерения
1.3.4. Система испытаний, калибровки и поверки
СИ
1.3.5. Система стандартных образцов состава и
свойств веществ и материалов
1.3.6. Система стандартных справочных данных о
физических константах и свойствах веществ и
материалов
1.4. Нормативная основа метрологического
обеспечения
1.5. Организационная основа метрологического
обеспечения
2. NBIC - ВЫСОКИЕ ТЕХНОЛОГИИ XXI ВЕКА
2.1. Нанотехнологии
2.1.1. Общие сведения
2.1.2. Нанотехнологическая продукция
2.1.3. Перспективные направления развития
нанотехнологии в зарубежных странах
2.1.4. Направления развития нанотехнологии в
России
2.2. Биотехнологии
2.2.1. Общие сведения
2.2.2. Нанобиотехнологии: повышение физических
возможностей человека
2.2.3. Биоинформатика
2.3. Информационные технологии
2.3.1. Общие сведения
2.3.2. Квантовые компьютеры
2.4. Когнитивные технологии
2.4.1. Определение когнитивных технологий
2.4.2. BCI-технологии
2.4.3. Технологии искусственного интеллекта
3. МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
НАНОТЕХНОЛОГИИ
3.1. Нанометрология
3.2. Техническая основа нанометрологии
3.2.1. Электронная микроскопия
3.2.2. Сканирующая зондовая микроскопия
3.2.3. Метрологическое обеспечение линейных
измерений
3.2.4. Оптико-спектральные методы
3.2.5. Дифракционные методы
3.2.6. Метрологическое обеспечение измерений
параметров наночастиц
3.3. Нормативно-методическая основа
метрологического обеспечения нанотехнологии
3.4. Организационная основа
4. МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
БИОТЕХНОЛОГИЙ
4.1. Биометрология
4.2. Техническая основа биометрологии
4.2.1. Микроскопия
4.2.2. Спектроскопия
4.3. Нормативно-методическая основа
4.4. Организационная основа
5. МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЙ
5.1. Квантовая метрология
5.2. Техническая основа
5.3. Нормативно-методическая основа
5.4. Организационная основа
6. МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
КОГНИТИВНЫХ ТЕХНОЛОГИЙ
6.1. Теоретическая основа
6.2. Методическая основа
6.3. Организационная основа
Литература