КаталогКниг.РФ Технология производства и контроль качества наноматериалов и наноструктур. Учебное пособие (Сигов Александр Сергеевич, Капустин Владимир Иванович) ; ИНФРА-М, 2019
от 893 р. до 1739 р.
Автор(ы): Сигов Александр Сергеевич; Капустин Владимир Иванович;
Издатель: Инфра-Инженери
ISBN: 978-5-16-013806-0
ID: SKU3292
Сравнить цены
Цена от 893 р. до 1739 р. в 7 магазинах
| Магазин | Цена | Наличие |
|---|---|---|
| Буквоед 5/5 | 1739 р. Минимальная сумма заказа 100 рублей | |
| Book24 5/5 | 1739 р. | наличие уточняйте 26.04.2024 |
| Яндекс.Маркет 5/5 | 1224 р. | |
| Лабиринт 5/5 | 1210 р. 2420 р. | наличие уточняйте 09.04.2024 |
| Читай-город 5/5 | 1739 р. | наличие уточняйте 02.12.2023 |
| МАЙШОП 5/5 | 893 р. 1440 р. | наличие уточняйте 08.04.2024 |
| OZON | 1158 р. | наличие уточняйте 03.01.2024 |
| AliExpress 5/5 | ||
| Мегамаркет 5/5 | ||
Описание
Учебное пособие содержит краткие сведения о технологиях производства наноматериалов и наноструктур, методах контроля кристаллической структуры и размеров нанокристаллитов, методах контроля электронной структуры и типа химических связей в наноматериалах, а также типа и концентрации точечных дефектов в наноматериалах.
Соответствует требованиям федеральных государственных образовательных стандартов высшего образования последнего поколения.
Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям подготовки бакалавров 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника", 28.03.01 "Нанотехнологии и микросистемная техника" и направлениям подготовки магистров 11.04.04 "Электроника и наноэлектроника", 28.04.01 "Нанотехнологии и микросистемная техника".
Соответствует требованиям федеральных государственных образовательных стандартов высшего образования последнего поколения.
Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям подготовки бакалавров 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника", 28.03.01 "Нанотехнологии и микросистемная техника" и направлениям подготовки магистров 11.04.04 "Электроника и наноэлектроника", 28.04.01 "Нанотехнологии и микросистемная техника".
Смотри также Характеристики.
Яндекс.Маркет
Содержание
Предисловие
Глава 1. Основные технологии наноматериалов
Глава 2. Физические основы методов анализа
материалов
Глава 3. Контроль кристаллической структуры
наноматериалов
Глава 4. Контроль размеров наночастиц и
наноструктур
Глава 5. Контроль элементного состава
наноматериалов
Глава б. Анализ типа химических связей в
наноматериалах
Глава 7. Анализ дефектов кристаллической
структуры наноматериалов
Библиографический список
Глава 1. Основные технологии наноматериалов
Глава 2. Физические основы методов анализа
материалов
Глава 3. Контроль кристаллической структуры
наноматериалов
Глава 4. Контроль размеров наночастиц и
наноструктур
Глава 5. Контроль элементного состава
наноматериалов
Глава б. Анализ типа химических связей в
наноматериалах
Глава 7. Анализ дефектов кристаллической
структуры наноматериалов
Библиографический список
О книге
| Автор(ы) | Сигов Александр Сергеевич, Капустин Владимир Иванович |
| Серия | Высшее образование. Бакалавриат |
| Раздел | Радиоэлектроника |
| Издатель | ИНФРА-М |
| ISBN | 978-5-16-013806-0 |
| Год издания | 2019 |
| Количество страниц | 244 |
| Формат | 145x215мм |
| Вес | 0.33кг |
| Переплет | Твердый переплёт |
| Возрастные ограничения | 12 |
| Кол-во страниц | 244 |
| Размеры | 60x90/16 |
| Обложка | твердый переплёт |
| Язык издания | rus |
1 ms.
Книги с похожим названием
Книги где авторы: Сигов Александр Сергеевич, Капустин Владимир Иванович
Радиоэлектроника. Связь - издательство "Инфра-Инженери"
Категория 714 р. - 1071 р.
Электротехника. Электроника - издательство "Инфра-Инженери" »
0 ms.
Радиоэлектроника. Связь
Категория 714 р. - 1071 р.
