Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть 2 (Александр Величко) ; Новосибирский государственный технический университет, 2014
192 р.
Автор(ы): Александр Величко;
Издатель: Новосибирский государственный технический университет
ISBN: 978-5-7782-2534-3
ID: SKU457099
Добавлено: 23.08.2021
Цены
Цена от 192 р. до 192 р. в 1 магазинах
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
ЛитРес 5/5 | 192 р. 240 р. электронная книга | скачать фрагмент | |
Лабиринт 5/5 | ||
Читай-город 5/5 | ||
МАЙШОП 5/5 | Один из первых книжных интернет-магазинов, работающий с 2002 года | |
Описание
Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов исследования электрофизических параметров наноэлектронных материалов и структур. Рассматриваются вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и студентов, обучающихся по направлению «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».
Смотри также Характеристики.
Яндекс.Маркет
О книге
Автор(ы) | Александр Величко |
Издатель | Новосибирский государственный технический университет |
Год издания | 2014 |
Форматы электронной версии | |
ISBN | 978-5-7782-2534-3 |
1 ms.
Книги где автор: Александр Величко
Похожие товары
Категория 153 р. - 230 р.