КаталогКниг.РФ

Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии (Александр Величко) ; Новосибирский государственный технический университет, 2012

Книга: Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии (Александр Величко) ; Новосибирский государственный технический университет, 2012

36 р.


Цены

Цена от 36 р. до 36 р. в 1 магазинах

МагазинЦенаНаличие
ЛитРес

5/5

36 р. 45 р.
электронная книга | скачать фрагмент
Лабиринт

5/5

Читай-город

5/5

МАЙШОП

5/5

Один из первых книжных интернет-магазинов, работающий с 2002 года

Как купить или где мы находимся +

Описание

Дано краткое описание способа измерения ширины запрещенной зоны и толщины гетероэпитаксиальных узкозонных полупроводников методом определения спектральных зависимостей коэффициентов поглощения и отражения на ИК Фурье-спектрометре. В работе кратко изложена теория механизмов поглощения и отражения в полупроводниках. Дано описание ИК Фурьеспектрометра Nicolet 6700, изложена методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных. Приведены контрольные вопросы и список рекомендованной литературы.

Смотри также Характеристики.

Яндекс.Маркет


О книге

Автор(ы)
ИздательНовосибирский государственный технический университет
Год издания2012
Форматы электронной версииPDF
ISBN978-5-7782-1924-3

Отзывы (0)

    Добавить отзыв



    1 ms.

    Книги где автор: Александр Величко

    Искать всё

     

    учебники и пособия для вузов

    ADS
    закладки (0) сравнение (0)

     

    preloader

    219 ms