Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии (Александр Величко) ; Новосибирский государственный технический университет, 2012
36 р.
Автор(ы): Александр Величко;
Издатель: Новосибирский государственный технический университет
ISBN: 978-5-7782-1924-3
ID: SKU456331
Добавлено: 23.08.2021
Цены
Цена от 36 р. до 36 р. в 1 магазинах
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
ЛитРес 5/5 | 36 р. 45 р. электронная книга | скачать фрагмент | |
Лабиринт 5/5 | ||
Читай-город 5/5 | ||
МАЙШОП 5/5 | Один из первых книжных интернет-магазинов, работающий с 2002 года | |
Описание
Дано краткое описание способа измерения ширины запрещенной зоны и толщины гетероэпитаксиальных узкозонных полупроводников методом определения спектральных зависимостей коэффициентов поглощения и отражения на ИК Фурье-спектрометре. В работе кратко изложена теория механизмов поглощения и отражения в полупроводниках. Дано описание ИК Фурьеспектрометра Nicolet 6700, изложена методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных. Приведены контрольные вопросы и список рекомендованной литературы.
Смотри также Характеристики.
Яндекс.Маркет
О книге
Автор(ы) | Александр Величко |
Издатель | Новосибирский государственный технический университет |
Год издания | 2012 |
Форматы электронной версии | |
ISBN | 978-5-7782-1924-3 |
1 ms.
Книги где автор: Александр Величко