Materials Characterization (Yang Leng) ; John Wiley & Sons Limited
11628 р.
Автор(ы): Yang Leng;
Издатель: John Wiley & Sons Limited
ISBN: 9780470822999
ID: SKU705391
Добавлено: 23.08.2021
Цены
Цена от 11628 р. до 11628 р. в 1 магазинах
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
ЛитРес 5/5 | 11628 р. 14535 р. электронная книга | скачать фрагмент | |
Лабиринт 5/5 | ||
Читай-город 5/5 | ||
МАЙШОП 5/5 | Один из первых книжных интернет-магазинов, работающий с 2002 года | |
Описание
This book covers state-of-the-art techniques commonly used in modern materials characterization. Two important aspects of characterization, materials structures and chemical analysis, are included. Widely used techniques, such as metallography (light microscopy), X-ray diffraction, transmission and scanning electron microscopy, are described. In addition, the book introduces advanced techniques, including scanning probe microscopy. The second half of the book accordingly presents techniques such as X-ray energy dispersive spectroscopy (commonly equipped in the scanning electron microscope), fluorescence X-ray spectroscopy, and popular surface analysis techniques (XPS and SIMS). Finally, vibrational spectroscopy (FTIR and Raman) and thermal analysis are also covered.
Смотри также Характеристики.
Яндекс.Маркет
О книге
Автор(ы) | Yang Leng |
Издатель | John Wiley & Sons Limited |
Форматы электронной версии | |
ISBN | 978-0-470-82299-9 |
Книги с похожим названием
Книги где автор: Yang Leng
Технические науки - издательство "John Wiley & Sons Limited"
Категория 9302 р. - 13953 р.
Техническая литература - издательство "John Wiley & Sons Limited" »