Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть 1. Сканирующая зондовая микроскопия (Борис Кольцов) ; Новосибирский государственный технический университет, 2013
132 р.
Автор(ы): Борис Кольцов;
Издатель: Новосибирский государственный технический университет
ISBN: 978-5-7782-2158-1
ID: SKU456930
Добавлено: 23.08.2021
Цены
Цена от 132 р. до 132 р. в 1 магазинах
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
ЛитРес 5/5 | 132 р. 165 р. электронная книга | скачать фрагмент | |
Лабиринт 5/5 | ||
Читай-город 5/5 | ||
МАЙШОП 5/5 | Один из первых книжных интернет-магазинов, работающий с 2002 года | |
Описание
Пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 222900 «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Экспериментальные методы исследования и метрология», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем», и студентов, обучающихся по направлению 210100 «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».
Смотри также Характеристики.
Яндекс.Маркет
О книге
Автор(ы) | Борис Кольцов |
Издатель | Новосибирский государственный технический университет |
Год издания | 2013 |
Форматы электронной версии | |
ISBN | 978-5-7782-2158-1 |
Похожие товары
Категория 105 р. - 158 р.