Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение (Джи Лиу) ; Лаборатория знаний, 2006
968 р.
Автор(ы): Джи Лиу;
Издатель: Лаборатория знаний
ISBN: 978-5-00101-142-2
ID: SKU405686
Добавлено: 23.08.2021
Цены
Цена от 968 р. до 968 р. в 1 магазинах
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
ЛитРес 5/5 | 968 р. 1210 р. электронная книга | скачать фрагмент | |
Лабиринт 5/5 | ||
Читай-город 5/5 | ||
МАЙШОП 5/5 | Один из первых книжных интернет-магазинов, работающий с 2002 года | |
Описание
В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий, посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Книга предназначена для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но будет полезна также студентам вузов и разработчикам новых типов растровых электронных микроскопов.
Смотри также Характеристики.
Яндекс.Маркет
О книге
Автор(ы) | Джи Лиу |
Издатель | Лаборатория знаний |
Год издания | 2006 |
Возрастные ограничения | 12 |
Форматы электронной версии | |
ISBN | 978-5-00101-142-2 |
Книги с похожим названием
Похожие товары
Категория 774 р. - 1161 р.