Трехмерная электронная микроскопия в реальном времени Учебное пособие (Зевайль А., Томас Дж.) ; Интеллект групп, 2013

Благодарности
Предисловие
Глава 1. РЕТРОСПЕКТИВА: ОТ КАМЕРЫ ОБСКУРА ДО
ИЗОБРАЖЕНИЙ В РЕАЛЬНОМ ВРЕМЕНИ
Литература
Глава 2. ПОНЯТИЕ КОГЕРЕНТНОСТИ В ОПТИКЕ И
ЭЛЕКТРОННОЙ ОПТИКЕ
2.1. Когерентность: упрощенное введение
2.2. Оптическая когерентизация состояний
атомно-молекулярных систем
2.3. Когерентность при дифракции
2.3.1. Критерий Ралея и разрешение
2.3.2. Дифракция электронов па атомах и
молекулах
2.4. Когерентность и дифракция в
кристаллографии
2.5. Когерентность в процессах построения
изображения
2.5.1. Базовые подходы
2.5.2. Когерентность источника, продольная и
поперечная
2.5.3. Построение изображения в электронной
микроскопии
2.6. Приборные факторы, ограничивающие
когерентность
Литература
Глава 3. ОТ ДВУМЕРНОГО К ТРЕХМЕРНОМУ
СТРУКТУРНОМУ ИЗОБРАЖЕНИЮ.
Основополагающие подходы
3.1. Двумерное и трехмерное изображения
3.2. Электронная кристаллография: комбинация
дифракции и изображения
3.3. Высокоразрешающая сканирующая
электронная просветная микроскопия
3.3.1. Использование STEM для электронной
томографии неорганических материалов
3.4. Биологические и другие органические
материалы
3.4.1. Визуализация архитектуры макромолекул
при помощи криоэлектронной томографии
3.5. Спектроскопия потерь энергии электронов
(EELS) и изображение при энергетически
фильтрованной ТЕМ
3.5.1. Сочетание EELS и ЕТ в клеточной биологии
3.6. Электронная голография
Литература
Глава 4. ПРИЛОЖЕНИЯ ДВУ- И ТРЕХМЕРНОГО
ИЗОБРАЖЕНИЙ И СОПУТСТВУЮЩИХ МЕТОДИК
4.1. Введение
4.2. Кристаллография в реальном пространстве
посредством HRTEM и HRSTEM
4.2.1. Капсулированные нанокристаллические
структуры
4.2.2. Частицы нанокристаллического платинового
катализатора
4.2.3. Микропористые катализаторы и
молекулярные сита
4.2.4. Другие цеолитные структуры
4.2.5. Структуры сложных окисных катализаторов,
определенные HRSTEM
4.2.6. Значение дифракции электронов в
определении трехмерной структуры
4.3. Электронная томография
4.4. Электронная голография
4.5. Электронная кристаллография
4.5.1. Другие сложные неорганические структуры
4.5.2. Сложные биологические структуры
4.6. Спектроскопия потери энергии электронами и
изображение
4.7. Атомное разрешение ТЕМ при газовом
окружении образца
4.7.1. Электронная микроскопия атомного
разрешения при внешнем давлении, использующая
технологию микроэлектромеханических систем
Литература
Глава 5. ЭЛЕКТРОННОЕ ИЗОБРАЖЕНИЕ В
ПРОСТРАНСТВЕ И ВРЕМЕНИ (основы)
5.1. Временнбе разрешение масштаба атомных
движений
5.1.1. Корпускулярно-волновой дуализм материи
5.1.2. Аналогия со светом
5.1.3. Классические атомы: волновые пакеты
5.1.4. Исследование модельного случая: два атома
5.2. От статической фотографии к
сверхскоростному изображению
5.2.1. Высокоскоростные затворы
5.2.2. Стробоскопия
5.2.3. Сверхскоростные методики
5.2.4. Фемтосекундные лазеры
5.3. Одноэлектронное построение изображений
5.3.1. Когерентность сверхбыстрых пакетов
5.3.2. Возвращаясь к эксперименту с двумя щелями
5.3.3. Сверхскоростное изображение по сравнению
со скоростным
5.3.4. Невязка скоростей и аттосекундный режим
5.4. Микроскопия в реальном времени: яркость,
когерентность и вырождение
5.4.1. Объем когерентности и вырождение
5.4.2. Яркость и вырождение
5.4.3. Когерентность и контраст
5.4.4. Контраст, доза и разрешение
Дополнительная литература
Литература
Глава 6. ЭЛЕКТРОННОЕ ИЗОБРАЖЕНИЕ В
ПРОСТРАНСТВЕ И ВРЕМЕНИ (достижения и
приложения)
6.1. Достижения Калифорнийского
технологического института. Краткая история
6.2. Установки и методики
6.3. Структура, морфология и механика
6.3.1. Динамика изображения (дифракции)
избранной площади
6.3.2. Динамика морфологии: кривизна, зависимая
от времени
6.3.3. Подтверждение принципа: динамика золота
6.3.4. Модельный случай: графит в реальном
времени
6.3.4.1. Атомные движении
6.3.4.2. Когерентные резоиапсы в дифракции:
продольный модуль Юнга
6.3.4.3. Резоиапсы в изображениях: продольная
упругость
6 14.4. Появление механического звона:
поперечная упругость
6.3.4.5. Динамика муаровых штрихов
6.14.6. FEELS: фемтосскупднап EELS и химические
свят
6.4. Другие приложения (выборочно)
6.4.1. Структурные фазовые переходы
6.4.1.1. Переход проводник-диэлектрик
Литература
Глава 7. СРАВНЕНИЕ ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА
И СИНХРОТРОНА
7.1. Введение
7.2. Рентгеновская просветная микроскопия и
микроскопическая томография
7.2.1. Рентгеновская томография биологических
клеток
7.3. Изображение при когерентной дифракции
рентгена
7.4. Определение структуры по порошковым
образцам
7.4.1. Определение структур
ультрамикрокристаллических образцов
7.4.2. Дифракция рентгена с энергетической
дисперсией
7.4.3. Рентгеновская спектроскопия тонкой
структуры (EXAFS)
7.4.4. Комбинация поглощения и дифракции
рентгена для изучения порошковых катализаторов
7.5. Исследование растворенных веществ
7.6. Статическая и динамическая кристаллография
Лауэ
7.7. Вечная проблема радиационного повреждения
7.8. Окончательная оценка
Литература
Глава 8. ВИЗУАЛИЗАЦИЯ В ПРОСТРАНСТВЕ И
ВРЕМЕНИ (прошлое, настоящее и будущее)
8.1. Визуализация и сложность
8.2. Парадокс сложности: когерентность и
созидательный хаос
8.3. От дву- и трехмерной к микроскопии в
реальном времени
8.4. Грядущее развитие
8.4.1. Материаловедение
8.4.2. UEM в биологии
8.4.3. Структурная динамика: теория и
эксперимент
8.4.4. Изображение ориентированных и одиночных
молекул
8.4.5. Изображение аттосекундными электронами
8.5. Заключение
Литература