Фундаментальные основы анализа нанопленок (Алфорд Терри Л.) ; Научный мир, 2020
от 790 р. до 889 р.
Автор(ы): Алфорд Т.Л.;
Издатель: Научный мир
ISBN: 978-5-91522-225-9
ID: SKU218697
Добавлено: 16.08.2021
Сравнить цены
Цена от 790 р. до 889 р. в 4 магазинах
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
Буквоед 5/5 | 889 р. Минимальная сумма заказа 100 рублей | |
Book24 5/5 | 889 р. | |
Яндекс.Маркет 5/5 | 1487 р. | |
Мегамаркет 5/5 | 790 р. 1170 р. | |
Лабиринт 5/5 | ||
Читай-город 5/5 | ||
МАЙШОП 5/5 | Один из первых книжных интернет-магазинов, работающий с 2002 года | |
Описание
Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе.
Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.
Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.
Смотри также Характеристики.
Яндекс.Маркет
О книге
Автор(ы) | Алфорд Терри Л. |
Серия | Фундаментальные основы нанотехнологий |
Раздел | Физические науки |
Издатель | Научный мир |
ISBN | 978-5-91522-225-9 |
Год издания | 2020 |
Количество страниц | 392 |
Формат | 170x245мм |
Вес | 0.64кг |
Переплет | 70х100/16 |
Кол-во страниц | 392 |
Возрастные ограничения | 12 |
Тип обложки | твердая |
Назначение | для технических ВУЗов; для экономических ВУЗов |
Издательство | Научный мир |
Вес, в граммах | 750 |
Физика - издательство "Научный мир"
Категория 632 р. - 948 р.
Физика - издательство "Научный мир" »
Физика
Категория 632 р. - 948 р.