КаталогКниг.РФ

Книга: Метрология (Бавыкин Олег Борисович, Вячеславова Ольга Федоровна, Грибанов Дмитрий Дмитриевич) ; Форум, 2019

Книга: Метрология (Бавыкин Олег Борисович, Вячеславова Ольга Федоровна, Грибанов Дмитрий Дмитриевич) ; Форум, 2019

3530 р.

  • Автор(ы): Вячеславова Ольга Федоровна; Бавыкин Олег Борисович; Грибанов Дмитрий Дмитриевич;

  • Издатель: Форум

  • ISBN: 978-5-00091-474-8

  • все характеристики

  • ID: SKU163953

  • Добавлено: 15.08.2021


Цены

Цена от 3530 р. до 3530 р. в 1 магазинах

МагазинЦенаНаличие
Буквоед

5/5

3530 р.
Минимальная сумма заказа 100 рублей
Лабиринт

5/5

Читай-город

5/5

МАЙШОП

5/5

Один из первых книжных интернет-магазинов, работающий с 2002 года

Как купить или где мы находимся +

Описание

Изложены основные положения теоретической, прикладной и законодательной метрологии. Рассмотрены теоретические основы и прикладные вопросы метрологии на современном этапе, исторические аспекты и положения метрологии нанотехнологий и квантовых процессов как особого вида измерений физических величин. Представлены основные положения Федерального закона от 26 июня 2008 г. № 102-ФЗ "Об обеспечении единства измерений".
Соответствует требованиям Федеральных государственных образовательных стандартов высшего образования последнего поколения.
Для студентов высших технических учебных заведений, обучающихся по техническим специальностям, в качестве учебника по общепрофессиональным и специальным дисциплинам, а также для лиц, интересующихся вопросами измерений и метрологического обеспечения.
3-е издание, переработанное и дополненное.

Смотри также Характеристики.

Яндекс.Маркет


Содержание

Авторский коллектив
Список принятых сокращений
Предисловие
Введение
Глава 1. ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕТРОЛОГИЯ
1.1. Метрология макрообъектов и процессов
1.1.1. Величина
1.1.2. Системы единиц величин
1.1.3. Точность результатов измерений
1.1.4. Систематические погрешности
1.1.5. Случайные погрешности
Вопросы для самопроверки
1.1.6. Случайные величины (СВ)
1.1.7. Интегральная и дифференциальная функции
распределения случайных величин
Вопросы для самопроверки
1.1.8. Характеристики случайных величин
Вопросы для самопроверки
1.1.9. Нормальный закон распределения
Вопросы для самопроверки
1.1.10. Равномерный закон распределения
Вопросы для самопроверки
1.1.11. Законы распределения случайных
погрешностей, применяемые чаще всего
Вопросы для самопроверки
1.1.12. Суммирование составляющих погрешности
измерений
Вопросы для самопроверки
1.1.13. Точечная и интервальная оценки истинного
значения измеряемой величины
Вопросы для самопроверки
Глава 2. ПРИКЛАДНАЯ МЕТРОЛОГИЯ
2.1. К понятию термина "измерение"
2.2. Измерения и их классификация
Вопросы для самопроверки
2.2.1. Однократные измерения и обработка их
результатов
Вопросы для самопроверки
2.2.2. Многократные измерения и обработка их
результатов
2.2.3. Обработка результатов неравноточных
(неравнорассеянных) измерений
Вопросы для самопроверки
2.2.4. Обработка результатов косвенных
измерений
Вопросы для самопроверки
2.2.5. Обработка результатов совокупных и
совместных измерений
2.2.6. Метод наименьших квадратов
Вопросы для самопроверки
2.2.7. Правила округления результатов
наблюдений и вычислений и их погрешности
Вопросы для самопроверки
2.2.8. Статистическая обработка результатов
измерений на компьютере
2.3. Средства измерений
2.3.1. Термины и определения
2.3.2. Классификация средств измерений по
определяющим признакам
Вопросы для самопроверки
2.3.3. Обобщенная структурная схема средств
измерений
Вопросы для самопроверки
2.3.4. Требования, предъявляемые к средствам
измерений
2.3.5. Метрологические характеристики средств
измерений
2.3.6. Способы нормирования метрологических
характеристик
2.3.7. Формы представления нормированных
метрологических характеристик
2.3.8. Классы точности средств измерений
Вопросы для самопроверки
2.4. Эталоны.
2.4.1. Эталон - средство воспроизведения,
хранения и передачи единицы физической
величины
2.4.2. Совершенствование эталонной базы
Российской Федерации
2.4.3. Государственные эталоны основных единиц
величин
2.4.4. Передача размеров от эталонов к рабочим
средствам измерений
2.5. Рабочие средства измерений
2.5.1. Измерение весовых величин
2.5.2. Измерения геометрических величин
2.5.3. Средства измерений механических величин
2.5.4. Средства измерений тепловых величин
Вопросы для самопроверки
2.6. Выбор средств измерений
2.7. Условия измерения и контроля
Вопросы для самопроверки
2.8. Испытания
2.8.1. Планирование испытаний
2.8.2. Испытательное оборудование
2.8.3. Нормативно-правовая основа аттестации
испытательного оборудования
2.8.4. Аттестация испытательного оборудования
2.8.5. Порядок подготовки и проведения
аттестации испытательного оборудования
2.9. Метрологическая экспертиза технической
документации
2.9.1. Метрологическая экспертиза - составной
элемент метрологического обеспечения
производства
2.9.2. Задачи, решаемые при проведении
метрологической экспертизы
2.9.3. Документация, подлежащая
метрологической экспертизе
2.9.4. Организация, порядок проведения
метрологической экспертизы и ответственность
должностных лиц
2.9.5. Особенности экспертизы отдельных видов
технической документации
2.9.6. Способы решения различных задач
метрологической экспертизы конструкторской
документации (чертежа детали)
2.9.7. Пример проведения экспертизы
конструкторской документации
2.9.8. Пример проведения метрологической
экспертизы технологической документации
2.9.9. Оценка экономической эффективности
метрологической экспертизы
2.10. Метрологическое обеспечение изделий на
всем их жизненном цикле
2.10.1. Цели и задачи метрологического
обеспечения изделий
2.10.2. Научные, технические и организационные
основы метрологического обеспечения изделий
2.11. Система менеджмента измерений
2.11.1. Термины и определения
2.11.2. Общие требования
2.11.3. Ответственность руководства
2.11.4. Управление ресурсами
2.11.5. Метрологическое подтверждение и
реализация измерительных процессов
2.11.6. Анализ и улучшение системы менеджмента
измерений
Глава 3. ОСНОВЫ МЕТРОЛОГИИ НАНОТЕХНОЛОГИЙ
3.1. История становления нанотехнологий
3.2. Основные свойства наноструктур
3.3. Основные принципы нанотехнологий
3.4. Методы и средства измерений в
нанотехнологиях
3.5. Обеспечение единства измерений в
нанотехнологиях
Глава 4. ОСНОВЫ МЕТРОЛОГИИ КВАНТОВЫХ
ПРОЦЕССОВ
4.1. Этапы создания метрологии квантовых
процессов
4.2. Измерение квантовых (субмикроскопических)
объектов, их специфика
4.3. Средства измерений квантовых процессов
Вопросы для самопроверки
Глава 5. ЗАКОНОДАТЕЛЬНАЯ МЕТРОЛОГИЯ
5.1. Цели и задачи законодательной метрологии
5.2. Правовые основы обеспечения единства
измерений в Российской Федерации
5.3. Федеральный закон "Об обеспечении единства
измерений"
5.4. Федеральный закон "О техническом
регулировании"
5.5. Федеральный закон "О стандартизации в
Российской Федерации"
5.6. Государственная система обеспечения
единства измерений
5.6.1. Цели, задачи и состав государственной
системы обеспечения единства измерений
5.6.2. Научная подсистема (подсистема основных
норм и правил по обеспечению единства
измерений) государственной системы обеспечения
единства измерений
5.6.3. Правовая подсистема государственной
системы обеспечения единства измерений
5.6.4. Организационная подсистема
государственной системы обеспечения единства
измерений
5.6.5. Нормативно-методическая подсистема
государственной системы обеспечения единства
измерений
5.6.6. Техническая подсистема государственной
системы обеспечения единства измерений
5.7. Формы государственного регулирования в
области обеспечения единства измерений
Вопросы для самопроверки
Приложение 1. Нормативно-методические
документы, представленные в учебнике
Приложение 2. Перечень государственных
первичных эталонов единиц величин (по состоянию
на 01.03.2015)
Приложение 3. Характеристики государственных
эталонов России
Приложение 4. Форма протокола аттестации
испытательного оборудования
Приложение 5. Форма аттестата испытательного
оборудования, прошедшего аттестацию
Приложение 6. Форма бирки, помещаемой на
испытательном оборудовании, прошедшем
аттестацию
Приложение 7. Стандарты в сфере нанотехнологий
(выборка)
Библиографический список

О книге

СерияВысшее образование
РазделОбщетехнические дисциплины
ИздательФорум
ISBN978-5-00091-474-8
Год издания2019
Количество страниц522
Формат146x215мм
Вес0.60кг
Автор(ы)
ПереплетТвердый переплёт
Возрастные ограничения12
Кол-во страниц522
Размеры60x90/16
Обложкатвердый переплёт
Язык изданияrus

Отзывы (0)

    Добавить отзыв



    1 ms.

    Книги с похожим названием

    Искать все [290]

    Книги где авторы: Бавыкин Олег Борисович, Вячеславова Ольга Федоровна, Грибанов Дмитрий Дмитриевич

    Искать всё

     

    Похожие товары

    Метрология, стандартизация и сертификация - издательство "Форум" »

    1 ms.

    Метрология, стандартизация и сертификация

    Категория 2824 р. - 4236 р.

    ADS
    закладки (0) сравнение (0)

     

    preloader

    9 ms