Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем (Куликов Игорь Валентинович) ; Политехника, 2017
от 299 р. до 482 р.
Автор(ы): Куликов Игорь Валентинович;
Издатель: Политехника
ISBN: 9785732511154, 978-5-7325-115-4
ID: SKU11512
Добавлено: 15.08.2021
Сравнить цены
Цена от 299 р. до 482 р. в 2 магазинах
Магазин | Цена | Наличие |
---|---|---|
Лабиринт 5/5 | 482 р. 689 р. | |
МАЙШОП 5/5 | 299 р. 460 р. | |
Читай-город 5/5 | ||
Описание
В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надежность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие "электронного функционала" и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надежность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также ее ничтожную достоверность в случае оценки надежности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена линейная регрессионная модель. Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники.
Смотри также Характеристики.
Яндекс.Маркет
Содержание
Предисловие
Принятые сокращения и терминологический
словарь
Глава 1. Физические основы функциональной
устойчивости
Глава 2. Феноменальная модель устойчивости
Глава 3. Функциональная устойчивость и тепловое
старение
Глава 4. Критерий функциональной устойчивости и
надежность
Приложения
Список литературы
Принятые сокращения и терминологический
словарь
Глава 1. Физические основы функциональной
устойчивости
Глава 2. Феноменальная модель устойчивости
Глава 3. Функциональная устойчивость и тепловое
старение
Глава 4. Критерий функциональной устойчивости и
надежность
Приложения
Список литературы
О книге
Издатель | Политехника |
Год издания | 2017 |
Страниц | 172 |
Переплёт | мягкий |
ISBN | 978-5-7325-1115-4 |
Размеры | 16,50 см × 23,30 см × 1,00 см |
Формат | 70х100/16 |
Автор(ы) | Куликов Игорь Валентинович |
Тематика | Информатика |
Тираж | 120 |
Переплет | Мягкий переплёт |
Возрастные ограничения | 12 |
Кол-во страниц | 172 |
Язык издания | Русский |
Обложка | мягкая обложка |
1 ms.
Радиоэлектроника. Связь - издательство "Политехника"
Категория 239 р. - 358 р.
Электротехника. Электроника - издательство "Политехника" »
1 ms.
Радиоэлектроника. Связь
Категория 239 р. - 358 р.