КаталогКниг.РФ Труды ФТИАН. Том 20. Квантовые компьютеры, микро- и наноэлектроника. Физика, технология, диагностика (Орликовский А. А., Валиев К. А., Кокин А. А.) ; Наука, 2009
253 р.
Автор(ы): Орликовский А. А.; Кокин А. А.; Валиев К. А.;
Издатель: Наука
ISBN: 978-5-02-036976-4
ID: SKU111288
Добавлено: 15.08.2021
Цены
Цена от 253 р. до 253 р. в 1 магазинах
| Магазин | Цена | Наличие |
|---|---|---|
| Лабиринт 5/5 | 253 р. 389 р. | |
| Читай-город 5/5 | ||
| МАЙШОП 5/5 | Один из первых книжных интернет-магазинов, работающий с 2002 года | |
Описание
Сборник, посвященный 20-летию Физико-технологического института РАН, включает в себя статьи по актуальным проблемам микро- и наноэлектроники, микро- и наноэлектромеханики и твердотельных квантовых компьютеров. Рассмотрены перспективы реализации полномасштабных квантовых компьютеров на ионных ловушках в твердотельных структурах, проанализирован перенос электрона в одномерных многоямных структурах. Особое внимание уделено важнейшим вопросам физики и моделирования нанотранзисторов (кремниевые в ультратонком кремнии на изоляторе, туннельные, с графеновым каналом и др. ). Исследованы межподзонные оптические переходы в структурах с разрывом запрещенной зоны. Представлены статьи по моделированию электромиграционного разрушения тонкопленочных проводит ков, прочности границы соединенных материалов в зависимости от их микроструктуры и содержание точечных дефектов, моделированию каналов нейтрализации источников пучков быстрых нейтралов, дается обзор плазменных процессов в технологии МЭМС.
Для специалистов в области микро- и наноэлектроники.
Для специалистов в области микро- и наноэлектроники.
Смотри также Характеристики.
Яндекс.Маркет
Содержание
20 лет Физико-технологическому институту РАН
(ФТИАН) (А.А. Орликовский) ...
К.А. Валиев, А.А. Кокин. Перспективы реализации
полномасштабных квантовых компьютеров на
ионных ловушках в твердотельных структурах
А.В. Цуканов. Резонансный перенос электрона в
одномерных многоямных
структурах
И.А. Семенихин, А.А. Захарова, К.А. Чао.
Межподзонные оптические переходы
в структурах с разрывом запрещенной зоны
В.В. Вьюрков, В.Ф. Лукичев, А.А. Орликовский,
И.А. Семенихин, А.Н. Хомяков
Эволюция моделей транзистора: от классических к
квантовым
Т.М. Махвиладзе, М.Е. Сарычев. Теория
электромиграционного разрушения
тонкопленочных проводников и ее приложения
Т.М. Махвиладзе, М.Е. Сарычев.
Термодинамический анализ прочности границы
соединенных материалов в зависимости от их
микроструктуры и содержания точечных дефектов
А.В. Дегтярев, В.П. Кудря, Ю.П. Маишев.
Математическое моделирование
канала нейтрализации источника пучков быстрых
нейтральных частиц
И.И. Амиров, О.В. Морозов, А.В. Постников, В.А.
Кальнов, А.А. Орликовский,
К.А. Валиев. Плазменные процессы глубокого
травления кремния в технологии
микросистемной техники
(ФТИАН) (А.А. Орликовский) ...
К.А. Валиев, А.А. Кокин. Перспективы реализации
полномасштабных квантовых компьютеров на
ионных ловушках в твердотельных структурах
А.В. Цуканов. Резонансный перенос электрона в
одномерных многоямных
структурах
И.А. Семенихин, А.А. Захарова, К.А. Чао.
Межподзонные оптические переходы
в структурах с разрывом запрещенной зоны
В.В. Вьюрков, В.Ф. Лукичев, А.А. Орликовский,
И.А. Семенихин, А.Н. Хомяков
Эволюция моделей транзистора: от классических к
квантовым
Т.М. Махвиладзе, М.Е. Сарычев. Теория
электромиграционного разрушения
тонкопленочных проводников и ее приложения
Т.М. Махвиладзе, М.Е. Сарычев.
Термодинамический анализ прочности границы
соединенных материалов в зависимости от их
микроструктуры и содержания точечных дефектов
А.В. Дегтярев, В.П. Кудря, Ю.П. Маишев.
Математическое моделирование
канала нейтрализации источника пучков быстрых
нейтральных частиц
И.И. Амиров, О.В. Морозов, А.В. Постников, В.А.
Кальнов, А.А. Орликовский,
К.А. Валиев. Плазменные процессы глубокого
травления кремния в технологии
микросистемной техники
О книге
| Издатель | Наука |
| ISBN | 978-5-02-036976-4 |
| Автор(ы) | Орликовский А. А., Валиев К. А., Кокин А. А. |
| Год издания | 2009 |
| Размеры | 70x100/16 |
| Язык издания | Русский |
| Кол-во страниц | 176 |
| Обложка | мягкая обложка |
1 ms.
Книги где авторы: Орликовский А. А., Валиев К. А., Кокин А. А.
Радиоэлектроника. Связь - издательство "Наука"
Категория 202 р. - 303 р.
Электротехника. Электроника - издательство "Наука" »
0 ms.
Радиоэлектроника. Связь
Категория 202 р. - 303 р.
